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Avis de Soutenance Monsieur Vorachack (Tom) KONGPHET

Date : 25/11/2022
Catégorie(s) :


Génie électrique

Soutiendra publiquement ses travaux de thèse intitulés

Contribution à la détection de défauts dans les modules PV en utilisant les courbes I-V

dirigés par Monsieur Demba DIALLO

Soutenance prévue le vendredi 25 novembre 2022 à 09h30


Lieu :   Université Paris-Saclay, CentraleSupelec, 3-11 rue Joliot Curie, 91192, Gif sur Yvette, France


Bâtiment Bouygues Amphi e.068

Composition du jury proposé

M. Demba DIALLO Université Paris-Saclay GS Sciences de l’ingénierie et des systèmes Directeur de thèse
Mme Corinne ALONSO Université Paul Sabatier Examinatrice
M. Pierre-Olivier LOGERAIS Université Paris-Est Créteil Examinateur
Mme Zhixue ZHENG Université de Lorraine Examinatrice
M. Eric LABOURE Université Paris-Saclay Examinateur
M. Yassine AMIRAT YNCREA-ISEN Rapporteur
M. Yvan BONNASSIEUX École Polytechnique Rapporteur
M. Claude  DELPHA Université Paris-Saclay Co-encadrant
Mme Anne MIGAN DUBOIS Université Paris-Saclay Co-encadrant
Mots-clés :Photovoltaique, Traceur I-V, Modèle photovoltaïque, courbe I-V, Détection et Diagnostic de défaut,
Résumé :  
La surveillance continue de l’état de santé des modules PV est obligatoire pour maintenir un rendement élevé et minimiser les pertes de puissance dues aux défauts ou aux pannes. Dans ce travail, un traceur embarqué à faible coût est développé et optimisé pour mesurer la courbe I-V en moins de 0,2 s afin de minimiser la durée de l’interruption de la production électrique. Le traceur proposé et validé avec un analyseur du commerce. Les données expérimentales sont utilisées pour valider le modèle analytique du module PV. Ce modèle s’appuie sur les cinq paramètres (Iph,Rs,Rsh,I0 and n) du circuit électrique à une diode. Il est combiné au modèle numérique de Matlab-Simulink pour mettre en place le modèle hybride qui sera utilisé comme référence pour le diagnostic. Ce modèle est validé avec une erreur relative inférieure à 3% pour plusieurs données environnementales (éclairement et température). Les données mesurées sont utilisées pour extraire les cinq paramètres du modèle électrique équivalent ainsi que les principales caractéristiques de la courbe I-V (courant, tension, Voc, Isc et Pmpp). Les courbes I-V mesurées sont aussi utilisées pour évaluer les deux méthodes de diagnostic des défauts (notées M1 et M2). M1 s’appuie sur le modèle analytique des cinq paramètres (Iph,Rs,Rsh,I0 and n) alors que M2 utilise les cinq caractéristiques (Ipv,Vpv,Pmpp,Voc and Isc) et le modèle hybride pour générer les courbes I-V de référence. Les résidus sont calculés entre les indicateurs des défauts extraits des mesures expérimentales et ceux issues des courbes de référence. Trois cas de défaut ont été étudiés : dégradation de la résistance série( Rs), dégradation de la résistance shunt (Rsh) et l’ombrage partiel. Les résultats basés sur des données expérimentales obtenues sous différentes températures et éclairements ont montré que la dégradation des résistances série et shunt et l’ombrage partiel étaient mieux détectés par les caractéristiques qu’avec les paramètres.